模擬接觸式智能卡讀取裝置，或者CLF

支持 ISO 7816-3, 7816-4, USB 2.0 和 USB-IC, SWP/S-HDLC/HCI 協(xié)議以及各種存儲(chǔ)

晶片

支援 ETSI TS 102 613 和 TS 102 622 規(guī)范

開放的系統(tǒng)來(lái)執(zhí)行客戶自訂的協(xié)議

可以調(diào)節(jié)所有電氣參數(shù)

可完成SIM卡擦寫測(cè)試 

監(jiān)測(cè)ISO 7816-3,7816-4,USB和SWP介面，**的協(xié)議分析功能

先進(jìn)的底層參數(shù)測(cè)量特性（開路/短路，電消耗，漏電流，…）

> **的時(shí)序測(cè)量特性

> 提供硬體Sequencer,**的回圈執(zhí)行測(cè)試scenario及進(jìn)一步的協(xié)議測(cè)試

> 開放式平臺(tái)：客戶可以將集成到自己的測(cè)試平臺(tái)

> 同時(shí)提供MPManager配套軟體，客戶無(wú)需程式設(shè)計(jì)即可完全控制測(cè)試儀

> 可以選配各種合作廠商測(cè)試庫(kù)套件，包括針對(duì)ISO 7816-3, Visa Level 1, EMV Level 1,

ETSI TS 102 613和ETSI TS 102 622等相容性檢測(cè)的測(cè)試案例